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文献
J-GLOBAL ID：201602261640864286
整理番号：16A0392719
ISO26262 ASIL-B準拠16nm FinFET異種NoNaコアSoC:10-7偶発ハードウェア故障/時間の信頼性の達成
A 16nm FinFET Heterogeneous Nona-Core SoC Complying with ISO26262 ASIL-B: Achieving 10-7 Random Hardware Failures per Hour Reliability
TAKAHASHI Chikafumi
(Renesas System Design, Tokyo, JPN)
,
SHIBAHARA Shinichi
(Renesas System Design, Tokyo, JPN)
,
FUKUOKA Kazuki
(Renesas System Design, Tokyo, JPN)
,
MATSUSHIMA Jun
(Renesas System Design, Tokyo, JPN)
,
KITAJI Yuko
(Renesas System Design, Tokyo, JPN)
,
SHIMAZAKI Yasuhisa
(Renesas Electronics, Tokyo, JPN)
,
HARA Hirotaka
(Renesas Electronics, Tokyo, JPN)
,
IRITA Takahiro
(Renesas Electronics, Tokyo, JPN)
資料名：
Digest of Technical Papers. IEEE International Solid-State Circuits Conference
(Digest of Technical Papers. IEEE International Solid-State Circuits Conference)
巻： 2016 ページ： 80-81,81(1) 発行年： 2016年
JST資料番号： D0753A ISSN： 0193-6530 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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