文献
J-GLOBAL ID:201602261667876506
整理番号:16A0636214
アノーディックストリッピングボルタンメトリーを用いた痕跡asenite定量のための高選択的センサ【Powered by NICT】
Highly selective sensor for trace asenite determination using anodic stripping voltammetry
著者 (4件):
Li Wang
(Dept. of Precision Instrum., Tsinghua Univ., Beijing, China)
,
Gaoshan Jing
(Dept. of Precision Instrum., Tsinghua Univ., Beijing, China)
,
Wenshuai Lu
(Dept. of Precision Instrum., Tsinghua Univ., Beijing, China)
,
Tianhong Cui
(Dept. of Mech. Eng., Univ. of Minnesota, Minneapolis, MN, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
MEMS
ページ:
901-904
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)