前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：201602262558619892
整理番号：16A0975642
回路概念アプローチを用いたBCIテストシステムの理論的解析【Powered by NICT】
Theoretical analysis of BCI test system using circuit concept approach
Murano Kimitoshi
(Tokai University, Kanagawa, 259-1292 Japan)
,
Takata Naoki
(Tokai University, Kanagawa, 259-1292 Japan)
,
Hoshino Misaki
(Tokai University, Kanagawa, 259-1292 Japan)
,
Kami Yoshio
(The University of Electro-Communications, Tokyo, 182-8585 Japan)
,
Xiao Fengchao
(The University of Electro-Communications, Tokyo, 182-8585 Japan)
,
Tayarani Majid
(Iran University of Science and Technology, Tehran, 1684613114 Iran)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： EMC ページ： 600-603 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。