文献
J-GLOBAL ID:201602264302512773
整理番号:16A1098528
フレキシブルエレクトロニクス応用のための低温ポリシリコン薄膜トランジスタの信頼性【Powered by NICT】
Reliability of low-temperature polysilicon thin-film transistors for flexible electronics application
著者 (4件):
Xu Siwei
(Department of Microelectronics, Soochow Univ., Suzhou 215006, China)
,
Sun Zhipeng
(Department of Microelectronics, Soochow Univ., Suzhou 215006, China)
,
Zhang Dongli
(Department of Microelectronics, Soochow Univ., Suzhou 215006, China)
,
Wang Mingxiang
(Department of Microelectronics, Soochow Univ., Suzhou 215006, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
INEC
ページ:
1-2
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)