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J-GLOBAL ID：201602264310208355 整理番号：16A1285916

温度と注入依存光ルミネセンスイメージングを用いたスワール欠陥研究【Powered by NICT】

Swirl defect investigation using temperature- and injection-dependent photoluminescence imaging

著者 (11件)：

Youssef Amanda

(Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts, 02139, USA)

Schon Jonas

(Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems, Heidenhofstras&e 2, D-79110 Freiburg, Germany)

Niewelt Tim

(Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems, Heidenhofstras&e 2, D-79110 Freiburg, Germany)

Mack Sebastian

(Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems, Heidenhofstras&e 2, D-79110 Freiburg, Germany)

Park Sungeun

(Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems, Heidenhofstras&e 2, D-79110 Freiburg, Germany)

Nakajima Kazuo

(FUTURE-PV Innovation, Koriyama, Fukushima 963-0215, Japan)

Morishita Kohei

(Kyoto University, Yoshida-Honmachi, Sakyo-Ku, Kyoto 606-8501, Japan)

Murai Ryota

(FUTURE-PV Innovation, Koriyama, Fukushima 963-0215, Japan)

Jensen Mallory A.

(Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts, 02139, USA)

Buonassisi Tonio

(Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts, 02139, USA)

Schubert Martin C.

(Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems, Heidenhofstras&e 2, D-79110 Freiburg, Germany)

資料名：

IEEE Conference Proceedings (IEEE Conference Proceedings)

巻： 2016 号： PVSC ページ： 1303-1307 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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