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文献
J-GLOBAL ID:201602266730694953   整理番号:16A1295603

チャージポンプ(CP)内部スイッチを用いた負電圧チャージポンプのためのESD保護

ESD protection for negative charge pump (CP) using CP internal switches
著者 (4件):
Srivastava Ankit
(Qualcomm Technologies, Inc., San Diego, CA 92121, USA)
Worley Gene
(Qualcomm Technologies, Inc., San Diego, CA 92121, USA)
Quan Xiaohong
(Qualcomm Technologies, Inc., San Diego, CA 92121, USA)
Miao Guoqing
(Qualcomm Technologies, Inc., San Diego, CA 92121, USA)

資料名:
Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)

巻: 57  ページ: 59-63  発行年: 2016年02月 
JST資料番号: C0530A  ISSN: 0026-2714  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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