文献
J-GLOBAL ID:201602266730694953
整理番号:16A1295603
チャージポンプ(CP)内部スイッチを用いた負電圧チャージポンプのためのESD保護
ESD protection for negative charge pump (CP) using CP internal switches
著者 (4件):
Srivastava Ankit
(Qualcomm Technologies, Inc., San Diego, CA 92121, USA)
,
Worley Gene
(Qualcomm Technologies, Inc., San Diego, CA 92121, USA)
,
Quan Xiaohong
(Qualcomm Technologies, Inc., San Diego, CA 92121, USA)
,
Miao Guoqing
(Qualcomm Technologies, Inc., San Diego, CA 92121, USA)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
57
ページ:
59-63
発行年:
2016年02月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)