文献
J-GLOBAL ID:201602268015034839
整理番号:16A1281083
ソフトウェア欠陥予測のための現像剤マイクロ相互作用計量【Powered by NICT】
Developer Micro Interaction Metrics for Software Defect Prediction
著者 (5件):
Lee Taek
(Korea University, Seoul, South Korea)
,
Nam Jaechang
(University of Waterloo, ON, Canada)
,
Han Donggyun
(University Colleage London, London, United Kingdom)
,
Kim Sunghun
(Hong Kong University of Science and Technology, Hong Kong, China)
,
Peter In Hoh
(Korea University, Seoul, South Korea)
資料名:
IEEE Transactions on Software Engineering
(IEEE Transactions on Software Engineering)
巻:
42
号:
11
ページ:
1015-1035
発行年:
2016年
JST資料番号:
D0480D
ISSN:
0098-5589
CODEN:
IESEDJ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)