文献
J-GLOBAL ID:201602269322028353
整理番号:16A0639102
BIST/DUTコデザインを介した低オーバヘッドを有するプロセスに依存しない利得測定【Powered by NICT】
Process independent gain measurement with low overhead via BIST/DUT co-design
著者 (3件):
Jeong Jae Woong
(School of Electrical, Computer, and Energy Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ)
,
Kitchen Jennifer
(School of Electrical, Computer, and Energy Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ)
,
Ozev Sule
(School of Electrical, Computer, and Energy Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
VTS
ページ:
1-6
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)