文献
J-GLOBAL ID:201602280481152155
整理番号:16A0770894
電子システムの故障診断におけるPSO(粒子群最適化)ELMの応用【Powered by NICT】
Application of PSO-ELM in electronic system fault diagnosis
著者 (3件):
Chen Shaowei
(School of Electronic Information, Northwestern Polytechnical University, Xi’an, China, 710129)
,
Shang Yue
(School of Electronic Information, Northwestern Polytechnical University, Xi’an, China, 710129)
,
Wu Minhua
(School of Electronic Information, Northwestern Polytechnical University, Xi’an, China, 710129)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ICPHM
ページ:
1-5
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)