文献
J-GLOBAL ID:201602280705166948
整理番号:16A0651872
AC測定からの半導体薄膜における電気的接触の評価【Powered by NICT】
Evaluation of Electrical Contact in Thin Semiconducting Films From AC Measurements
著者 (2件):
Ghosh Biswajit
(School of Energy Studies, Jadavpur University, Kolkata, India)
,
Mandal Ratan
(School of Energy Studies, Jadavpur University, Kolkata, India)
資料名:
IEEE Journal of the Electron Devices Society
(IEEE Journal of the Electron Devices Society)
巻:
4
号:
4
ページ:
179-184
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2429A
ISSN:
2168-6734
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)