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文献
J-GLOBAL ID：201602282025866718
整理番号：16A0655161
電界効果トランジスタによるテラヘルツイメージング【Powered by NICT】
Terahertz imaging by field effect transistors
Knap W.
(TERALAB & L2C CNRS, Universite Montpellier 2, France)
,
But D.
(TERALAB & L2C CNRS, Universite Montpellier 2, France)
,
Coquillat D.
(TERALAB & L2C CNRS, Universite Montpellier 2, France)
,
Dyakonova N.
(TERALAB & L2C CNRS, Universite Montpellier 2, France)
,
Teppe F.
(TERALAB & L2C CNRS, Universite Montpellier 2, France)
,
Sypek M.
(Optical Information Processing Laboratory, Warsaw University of Technology, Poland)
,
Suszek J.
(Optical Information Processing Laboratory, Warsaw University of Technology, Poland)
,
Cywinski G.
,
Szkudlarek K.
,
Yahniuk I.
(Institute of High Pressure Physics of Polish Academy of Sciences, Warsaw, Poland)
,
Yatsunenko S.
(Institute of High Pressure Physics of Polish Academy of Sciences, Warsaw, Poland)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： MIKON ページ： 1-3 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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