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文献
J-GLOBAL ID:201602285750752226   整理番号:16A0449252

車載向け高温Tj=175°C書換え1億回以上,エネルギー0.07mJ/8kBの90nm1T-MONOS eFlashの開発

A 90nm Embedded 1T-MONOS Flash Macro for Automotive Applications with 0.07mJ/8kB Rewrite Energy and Endurance Over 100M Cycles Under Tj of 175°C
著者 (11件):
中西悟
(ルネサスエレクトロニクス)
三谷秀徳
(ルネサスエレクトロニクス)
松原謙
(ルネサスエレクトロニクス)
吉田浩
(ルネサスエレクトロニクス)
河野隆司
(ルネサスエレクトロニクス)
帯刀恭彦
(ルネサスエレクトロニクス)
伊藤孝
(ルネサスエレクトロニクス)
倉藤崇
(ルネサスエレクトロニクス)
野口健二
(ルネサスエレクトロニクス)
日高秀人
(ルネサスエレクトロニクス)
山内忠明
(ルネサスエレクトロニクス)

資料名:
電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻: 116  号: 3(ICD2016 1-15)  ページ: 77-81  発行年: 2016年04月07日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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