文献
J-GLOBAL ID:201602285811923067
整理番号:16A0655334
ホットキャリア劣化モデリングに基づくCMOSインバータの劣化解析のためのソフトウェアツール【Powered by NICT】
A software tool for aging analysis of the CMOS inverter based on hot carrier degradation modeling
著者 (4件):
Messaris I.
(Department of Physics Aristotle, University of Thessaloniki, Thessaloniki, Greece)
,
Goudos S. K.
(Department of Physics Aristotle, University of Thessaloniki, Thessaloniki, Greece)
,
Nikolaidis S.
(Department of Physics Aristotle, University of Thessaloniki, Thessaloniki, Greece)
,
Dimitriadis C. A.
(Department of Physics Aristotle, University of Thessaloniki, Thessaloniki, Greece)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
MOCAST
ページ:
1-4
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)