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文献
J-GLOBAL ID:201602285980570453   整理番号:13A1264616

A single-event-hardened phase-locked loop using the radiation-hardened-by-designtechnique

著者 (4件):
Han Benguang
(Xi’an Microelectronic Technol. Inst., Xi’an)
Guo Zhongjie
(Xi’an Microelectronic Technol. Inst., Xi’an)
Wu Longsheng
(Xi’an Microelectronic Technol. Inst., Xi’an)
Liu Youbao
(Xi’an Microelectronic Technol. Inst., Xi’an)

資料名:
Journal of Semiconductors  (Journal of Semiconductors)

巻: 33  号: 10  ページ: 105007-1-105007-6  発行年: 2012年 
JST資料番号: C2377A  ISSN: 1674-4926  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
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