文献
J-GLOBAL ID:201602285980570453
整理番号:13A1264616
A single-event-hardened phase-locked loop using the radiation-hardened-by-designtechnique
著者 (4件):
Han Benguang
(Xi’an Microelectronic Technol. Inst., Xi’an)
,
Guo Zhongjie
(Xi’an Microelectronic Technol. Inst., Xi’an)
,
Wu Longsheng
(Xi’an Microelectronic Technol. Inst., Xi’an)
,
Liu Youbao
(Xi’an Microelectronic Technol. Inst., Xi’an)
資料名:
Journal of Semiconductors
(Journal of Semiconductors)
巻:
33
号:
10
ページ:
105007-1-105007-6
発行年:
2012年
JST資料番号:
C2377A
ISSN:
1674-4926
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
中国 (CHN)
言語:
英語 (EN)