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文献
J-GLOBAL ID：201602288948093186
整理番号：16A0635960
二重供給電圧を用いた低消費電力でのNBTI回路の信頼性のための方法論【Powered by NICT】
A methodology for NBTI circuit reliability at reduced power consumption using dual supply voltage
Forero Freddy
(Dept. of Electronic Engineering, National Institute for Astrophysics, Optics and Electronics - INAOE, Mexico)
,
Gomez Andres
(Dept. of Electronic Engineering, National Institute for Astrophysics, Optics and Electronics - INAOE, Mexico)
,
Champac Victor
(Dept. of Electronic Engineering, National Institute for Astrophysics, Optics and Electronics - INAOE, Mexico)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： LATS ページ： 81-86 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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