文献
J-GLOBAL ID:201602290882605039
整理番号:16A0600216
非-c-軸EpitaxialBi_2Sr_2CaCu_2O_8+δThin膜のX線回折によるキャラクタリゼーション【Powered by NICT】
Characterization by X-Ray Diffraction of Non- <tex-math notation=”LaTeX”>$c$</tex-math></inline-formula>-Axis Epitaxial <tex-math notation=”LaTeX”>$¥text{Bi}_{2}¥text{Sr}_{2}¥text{CaCu}_{2}¥text{O}_{8+¥delta}$</tex-math></inline-formula> Thin Films
著者 (6件):
Endo K.
(Kanazawa Inst. of Technol., Hakusan, Japan)
,
Arisawa S.
(Nat. Inst. for Mater. Sci., Tsukuba, Japan)
,
Kaneko T.
(Kanazawa Inst. of Technol., Hakusan, Japan)
,
Tsuyumoto I.
(Kanazawa Inst. of Technol., Hakusan, Japan)
,
Tateno Y.
(Kanazawa Inst. of Technol., Hakusan, Japan)
,
Badica P.
(Nat. Inst. of Mater. Phys., Magurele, Romania)
資料名:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
(IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻:
26
号:
3
ページ:
ROMBUNNO.7500104.1-4
発行年:
2016年
JST資料番号:
W0177A
ISSN:
1051-8223
CODEN:
ITASE9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)