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文献
J-GLOBAL ID:201602291269506118   整理番号:16A1000190

歪下のフレキシブルエレクトロニクス: 機械的評価と耐久性向上戦略のレビュー

Flexible electronics under strain: a review of mechanical characterization and durability enhancement strategies
著者 (5件):
Harris K. D.
(National Institute for Nanotechnology, Edmonton, AB, Canada)
Harris K. D.
(Department of Mechanical Engineering, University of Alberta, Edmonton, AB, Canada)
Elias A. L.
(National Institute for Nanotechnology, Edmonton, AB, Canada)
Elias A. L.
(Department of Chemical & Materials Engineering, University of Alberta, Edmonton, AB, Canada)
Chung H.-J.
(Department of Chemical & Materials Engineering, University of Alberta, Edmonton, AB, Canada)

資料名:
Journal of Materials Science  (Journal of Materials Science)

巻: 51  号:ページ: 2771-2805  発行年: 2016年03月 
JST資料番号: B0722A  ISSN: 0022-2461  CODEN: JMTSAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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