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J-GLOBAL ID:201602292014120434   整理番号:16A1150816

CdTe正孔濃度と寿命への開回路電圧の関係【Powered by NICT】

Relationship of Open-Circuit Voltage to CdTe Hole Concentration and Lifetime
著者 (12件):
Duenow Joel N.
(National Renewable Energy Laboratory, Golden, CO, USA)
Burst James M.
(National Renewable Energy Laboratory, Golden, CO, USA)
Albin David S.
(National Renewable Energy Laboratory, Golden, CO, USA)
Reese Matthew O.
(National Renewable Energy Laboratory, Golden, CO, USA)
Jensen Soren A.
(National Renewable Energy Laboratory, Golden, CO, USA)
Johnston Steven W.
(National Renewable Energy Laboratory, Golden, CO, USA)
Kuciauskas Darius
(National Renewable Energy Laboratory, Golden, CO, USA)
Swain Santosh K.
(Center for Materials Research, Washington State University, Pullman, WA, USA)
Ablekim Tursun
(Center for Materials Research, Washington State University, Pullman, WA, USA)
Lynn Kelvin G.
(Department of Physics, Center for Materials Research, School of Mechanical and Materials Engineering, Washington State University, Pullman, WA, USA)
Fahrenbruch Alan L.
(Department of Materials Science and Engineering, Stanford University, Stanford, CA, USA)
Metzger Wyatt K.
(National Renewable Energy Laboratory, Golden, CO, USA)

資料名:
IEEE Journal of Photovoltaics  (IEEE Journal of Photovoltaics)

巻:号:ページ: 1641-1644  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2305A  ISSN: 2156-3381  CODEN: IJPEG8  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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