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文献
J-GLOBAL ID:201602293977309062   整理番号:15A1126369

Improvement of the off-state breakdown voltage with field plate and low-density drain in AlGaN/GaN high-electron mobility transistors

著者 (8件):
Zhang Peng
(School of Advanced Materials and Nanotechnology, Xidian Univ. Key Lab. of Ministry of Education for Wide Band-Gap ...)
Zhao Shenglei
(School of Advanced Materials and Nanotechnology, Xidian Univ. Key Lab. of Ministry of Education for Wide Band-Gap ...)
Hou Bin
(School of Advanced Materials and Nanotechnology, Xidian Univ. Key Lab. of Ministry of Education for Wide Band-Gap ...)
Wang Chong
(School of Advanced Materials and Nanotechnology, Xidian Univ. Key Lab. of Ministry of Education for Wide Band-Gap ...)
Zheng Xuefeng
(School of Advanced Materials and Nanotechnology, Xidian Univ. Key Lab. of Ministry of Education for Wide Band-Gap ...)
Ma Xiaohua
(School of Advanced Materials and Nanotechnology, Xidian Univ. Key Lab. of Ministry of Education for Wide Band-Gap ...)
Zhang Jincheng
(School of Advanced Materials and Nanotechnology, Xidian Univ. Key Lab. of Ministry of Education for Wide Band-Gap ...)
Hao Yue
(School of Advanced Materials and Nanotechnology, Xidian Univ. Key Lab. of Ministry of Education for Wide Band-Gap ...)

資料名:
Chinese Physics B  (Chinese Physics B)

巻: 24  号:ページ: 037304-1-037304-4  発行年: 2015年 
JST資料番号: W1539A  ISSN: 1674-1056  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
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