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文献
J-GLOBAL ID:201602294899193016   整理番号:16A0321342

CIGS太陽電池の開回路電圧に及ぼす熱分解セレンの影響【Powered by NICT】

Influence of Thermal Cracking Selenium on The Open-circuit Voltage of CIGS Solar Cells
著者 (9件):
Li Guangmin
(Physics Dep.,School of Sci.,Tianjin Chengjian Univ., Tianjin)
Liu Wei
(Inst. of Photoelectronic Thin Film Devices and Technol. and Tianjin Key Lab. of Thin Film Devices and ...)
Lin Shuping
(Inst. of Photoelectronic Thin Film Devices and Technol. and Tianjin Key Lab. of Thin Film Devices and ...)
Li Xiaodong
(Inst. of Photoelectronic Thin Film Devices and Technol. and Tianjin Key Lab. of Thin Film Devices and ...)
Zhou Zhiqiang
(Inst. of Photoelectronic Thin Film Devices and Technol. and Tianjin Key Lab. of Thin Film Devices and ...)
He Qing
(Inst. of Photoelectronic Thin Film Devices and Technol. and Tianjin Key Lab. of Thin Film Devices and ...)
Zhang Yi
(Inst. of Photoelectronic Thin Film Devices and Technol. and Tianjin Key Lab. of Thin Film Devices and ...)
Liu Fangfang
(Inst. of Photoelectronic Thin Film Devices and Technol. and Tianjin Key Lab. of Thin Film Devices and ...)
Sun Yun
(Inst. of Photoelectronic Thin Film Devices and Technol. and Tianjin Key Lab. of Thin Film Devices and ...)

資料名:
Faguang Xuebao  (Faguang Xuebao)

巻: 36  号: 11  ページ: 1289-1293  発行年: 2015年 
JST資料番号: W1380A  ISSN: 1000-7032  CODEN: FAXUEW  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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