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文献
J-GLOBAL ID：201702200037016261
整理番号：17A0976690
テルル化ビスマスベースのトポロジカル絶縁体中での層状膜の層間表面のモルフォロジーと顕微Ramanスペクトルについて
On the Morphology of the Interlayer Surface and Micro-Raman Spectra of Layered Films in Topological Insulators based on Bismuth Telluride
LUKYANOVA L. N.
(Ioffe Inst., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS)
,
BIBIK A. Yu.
(St. Petersburg State Univ. Information Technol., Mechanics, and Optics, St. Petersburg, RUS)
,
ASEEV V. A.
(St. Petersburg State Univ. Information Technol., Mechanics, and Optics, St. Petersburg, RUS)
,
USOV O. A.
(Ioffe Inst., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS)
,
MAKARENKO I. V.
(Ioffe Inst., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS)
,
PETROV V. N.
(Ioffe Inst., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS)
,
NIKONOROV N. V.
(St. Petersburg State Univ. Information Technol., Mechanics, and Optics, St. Petersburg, RUS)
資料名：
Semiconductors
(Semiconductors)
巻： 51 号： 6 ページ： 729-731 発行年： 2017年06月
JST資料番号： T0093A ISSN： 1063-7826 CODEN： SMICES 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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