文献
J-GLOBAL ID:201702200495470060
整理番号:17A0976706
Sm1-xEuxS多結晶薄膜の構造的特徴
Structural Features of Sm1-XEuxS Thin Polycrystalline Films
著者 (5件):
KAMINSKII V. V.
(Ioffe Inst., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS)
,
SOLOV’EV S. M.
(Ioffe Inst., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS)
,
KHAVROV G. D.
(Ioffe Inst., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS)
,
SHARENKOVA N. V.
(Ioffe Inst., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS)
,
HIRAI Shinji
(Muroran Inst. of Technol., Hokkaido, JPN)
資料名:
Semiconductors
(Semiconductors)
巻:
51
号:
6
ページ:
828-830
発行年:
2017年06月
JST資料番号:
T0093A
ISSN:
1063-7826
CODEN:
SMICES
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)