文献
J-GLOBAL ID:201702206260571615
整理番号:17A0977658
確率論に基づく解析を用いた原子間力顕微鏡法によるナノ粒子接着の測定
Measurement of nano particle adhesion by atomic force microscopy using probability theory based analysis
著者 (6件):
GEIGER D
(Ulm Univ., Ulm, DEU)
,
SCHREZENMEIER I
(Ulm Univ., Ulm, DEU)
,
ROOS M
(Carl Zeiss SMT GmbH, Oberkochen, DEU)
,
NECKERNUSS T
(Ulm Univ., Ulm, DEU)
,
LEHN M
(Ulm Univ., Ulm, DEU)
,
MARTI O
(Ulm Univ., Ulm, DEU)
資料名:
Journal of Physics. D. Applied Physics
(Journal of Physics. D. Applied Physics)
巻:
50
号:
20
ページ:
205301,1-9
発行年:
2017年05月24日
JST資料番号:
B0092B
ISSN:
0022-3727
CODEN:
JPAPBE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)