文献
J-GLOBAL ID:201702210558838208
整理番号:17A0794834
RF絶縁破壊試験のための高出力マルチキャリア生成【Powered by NICT】
High-Power Multicarrier Generation for RF Breakdown Testing
著者 (4件):
Monerris Belda Oscar
(Val Space Consortium, Vale`ncia, Spain)
,
Diaz Caballero Elena
(Tesoro Imaging S.L., Vale`ncia, Spain)
,
Boria Vicente E.
(Universitat Polite`cnica de Vale`ncia, Vale`ncia, Spain)
,
Gimeno Benito
(Universitat de Vale`ncia, Vale`ncia, Spain)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
64
号:
2
ページ:
556-563
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)