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文献
J-GLOBAL ID：201702211296318042
整理番号：17A1632855
レーザ脱離とレーザpositionization飛行時間型質量分析法によるナノメータ薄層の深さプロファイリング【Powered by NICT】
Depth profiling of nanometer thin layers by laser desorption and laser postionization time-of-flight mass spectrometry
Yin Zhibin
(Department of Chemistry, The MOE Key Lab of Spectrochemical Analysis & Instrumentation, College of Chemistry and Chemical Engineering, Xiamen University, Xiamen, Fujian 361005, China. weihang@xmu.edu.cn)
,
Cheng Xiaoling
,
Liu Rong
,
Hang Wei
,
Huang Benli
資料名：
Journal of Analytical Atomic Spectrometry
(Journal of Analytical Atomic Spectrometry)
巻： 32 号： 10 ページ： 1878-1884 発行年： 2017年
JST資料番号： C0770C ISSN： 0267-9477 CODEN： JASPE2 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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