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文献
J-GLOBAL ID：201702212573980701
整理番号：17A0400485
CMOSイメージセンサのための傾斜単一スロープA DCにおけるランプ利得誤差の解析と改善【Powered by NICT】
Analysis and improvement of ramp gain error in single-ramp single-slope ADCs for CMOS image sensors
Cheng Xu
(State Key Laboratory of ASIC and System, Fudan University, Shanghai, China)
,
Zeng Xiaoyang
(State Key Laboratory of ASIC and System, Fudan University, Shanghai, China)
,
Feng Qi
(Key Laboratory of Infrared Imaging Materials and Detectors, Shanghai Institute of Technical Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China)
資料名：
Microelectronics Journal
(Microelectronics Journal)
巻： 58 ページ： 23-31 発行年： 2016年
JST資料番号： A0186A ISSN： 0026-2692 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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