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文献
J-GLOBAL ID：201702212862512357
整理番号：17A0953332
硬X線光電子分光法によるGaN膜のバンドプロファイルの決定
Determination of band profiles in GaN films using hard X-ray photoelectron spectroscopy
SAITO Shinji
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
SAITO Shinji
(Toshiba Corp., Yokohama, JPN)
,
YOSHIKI Masahiko
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
,
NUNOUE Shinya
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
,
SANO Nobuyuki
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 56 号： 2 ページ： 021003.1-021003.5 発行年： 2017年02月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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