文献
J-GLOBAL ID:201702213025147353
整理番号:17A0302150
高速3次元集積回路におけるエアギャップスルーシリコンビアの寄生効果【Powered by NICT】
Parasitic effects of air-gap through-silicon vias in high-speed three-dimensional integrated circuits
著者 (5件):
Liu Xiaoxian
(School of Microelectronics, Xidian University)
,
Zhu Zhangming
(School of Microelectronics, Xidian University)
,
Yang Yintang
(School of Microelectronics, Xidian University)
,
Ding Ruixue
(School of Microelectronics, Xidian University)
,
Li Yuejin
(School of Microelectronics, Xidian University)
資料名:
Chinese Physics B
(Chinese Physics B)
巻:
25
号:
11
ページ:
118401_01-118401_06
発行年:
2016年
JST資料番号:
W1539A
ISSN:
1674-1056
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
中国 (CHN)
言語:
英語 (EN)