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文献
J-GLOBAL ID：201702214056237358
整理番号：17A0275388
3.3kV4H-SiC PiNダイオードの電気特性とスイッチング性能に及ぼす三角形欠陥の影響【Powered by NICT】
The impact of triangular defects on electrical characteristics and switching performance of 3.3kV 4H-SiC PiN diode
Bonyadi Yeganeh
(School of Engineering of University of Warwick, Coventry, United Kingdom)
,
Gammon Peter
(School of Engineering of University of Warwick, Coventry, United Kingdom)
,
Bonyadi Roozbeh
(School of Engineering of University of Warwick, Coventry, United Kingdom)
,
Alatise Olayiwola
(School of Engineering of University of Warwick, Coventry, United Kingdom)
,
Hu Ji
(School of Engineering of University of Warwick, Coventry, United Kingdom)
,
Hindmarsh Steven
(School of Engineering of University of Warwick, Coventry, United Kingdom)
,
Mawby Philip
(School of Engineering of University of Warwick, Coventry, United Kingdom)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： ECCE ページ： 1-5 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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