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文献
J-GLOBAL ID：201702214279319820
整理番号：17A0547963
X線マイクロビームを用いた窒化物系単一ナノワイヤ上Ga1-xInxN/GaN量子井戸の構造評価
清木良麻
(名城大 理工)
,
澁谷弘樹
(名城大 理工)
,
今井康彦
(高輝度光科学研究セ)
,
隅谷和嗣
(高輝度光科学研究セ)
,
木村滋
(高輝度光科学研究セ)
,
岩瀬航平
(名城大 理工)
,
宮嶋孝夫
(名城大 理工)
,
上山智
(名城大 理工)
,
今井大地
(名城大 理工)
,
竹内哲也
(名城大 理工)
,
岩谷素顕
(名城大 理工)
,
赤崎勇
(名城大 理工)
資料名：
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 64th ページ： ROMBUNNO.14p-E205-6 発行年： 2017年03月01日
JST資料番号： Y0054B ISSN： 2436-7613 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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