文献
J-GLOBAL ID:201702214301261419
整理番号:17A0400495
SOI無接合FinFETのRF安定性性能とプロセス変動の影響【Powered by NICT】
RF stability performance of SOI junctionless FinFET and impact of process variation
著者 (2件):
Jegadheesan V.
(School of Electronics Engineering, VIT University, Vellore, India)
,
Sivasankaran K.
(School of Electronics Engineering, VIT University, Vellore, India)
資料名:
Microelectronics Journal
(Microelectronics Journal)
巻:
59
ページ:
15-21
発行年:
2017年
JST資料番号:
A0186A
ISSN:
0026-2692
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)