文献
J-GLOBAL ID:201702214598329108
整理番号:17A0914970
COTS低コストRISCマイクロコントローラに及ぼす電離放射線の効果【Powered by NICT】
Ionizing radiation effects on a COTS low-cost RISC microcontroller
著者 (10件):
Leite Felipe G. H.
(Physics Department, Centro Universita ́rio - FEI, Brazil)
,
Santos Roberto B. B.
(Physics Department, Centro Universita ́rio - FEI, Brazil)
,
Medina Nilberto H.
(Instituto de Fi ́sica, Sao Paulo University - USP, Brazil)
,
Aguiar Vitor. A. P.
(Instituto de Fi ́sica, Sao Paulo University - USP, Brazil)
,
Giacomini Renato C.
(Physics Department, Centro Universita ́rio - FEI, Brazil)
,
Added Nemitala
(Instituto de Fi ́sica, Sao Paulo University - USP, Brazil)
,
Aguirre Fernando
(Instituto de Fi ́sica, Sao Paulo University - USP, Brazil)
,
Macchione Eduardo L.A.
(Instituto de Fi ́sica, Sao Paulo University - USP, Brazil)
,
Vargas Fabian
(Catholic University - PUCRS, Brazil)
,
da Silveira Marcilei A. G.
(Physics Department, Centro Universita ́rio - FEI, Brazil)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
LATS
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)