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文献
J-GLOBAL ID:201702214598329108   整理番号:17A0914970

COTS低コストRISCマイクロコントローラに及ぼす電離放射線の効果【Powered by NICT】

Ionizing radiation effects on a COTS low-cost RISC microcontroller
著者 (10件):
Leite Felipe G. H.
(Physics Department, Centro Universita ́rio - FEI, Brazil)
Santos Roberto B. B.
(Physics Department, Centro Universita ́rio - FEI, Brazil)
Medina Nilberto H.
(Instituto de Fi ́sica, Sao Paulo University - USP, Brazil)
Aguiar Vitor. A. P.
(Instituto de Fi ́sica, Sao Paulo University - USP, Brazil)
Giacomini Renato C.
(Physics Department, Centro Universita ́rio - FEI, Brazil)
Added Nemitala
(Instituto de Fi ́sica, Sao Paulo University - USP, Brazil)
Aguirre Fernando
(Instituto de Fi ́sica, Sao Paulo University - USP, Brazil)
Macchione Eduardo L.A.
(Instituto de Fi ́sica, Sao Paulo University - USP, Brazil)
Vargas Fabian
(Catholic University - PUCRS, Brazil)
da Silveira Marcilei A. G.
(Physics Department, Centro Universita ́rio - FEI, Brazil)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: LATS  ページ: 1-4  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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