文献
J-GLOBAL ID:201702215327537966
整理番号:17A1432836
MXene膜のX線回折における{110}反射:非標準配向による誤った解釈と測定【Powered by NICT】
The {110} reflection in X-ray diffraction of MXene films: Misinterpretation and measurement via non-standard orientation
著者 (2件):
Ghidiu Michael
(Department of Materials Science and Engineering, Drexel University, Philadelphia, Pennsylvania)
,
Barsoum Michel W.
(Department of Materials Science and Engineering, Drexel University, Philadelphia, Pennsylvania)
資料名:
Journal of the American Ceramic Society
(Journal of the American Ceramic Society)
巻:
100
号:
12
ページ:
5395-5399
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0253A
ISSN:
0002-7820
CODEN:
JACTAW
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)