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文献
J-GLOBAL ID:201702215442341342   整理番号:17A1002981

熱雑音抑制型サンプルホールド回路を用いたイオン飛行時間計測用SOIイメージセンサ

SOI image sensor for ion flight time measurement using thermal noise suppressing sample hold circuit
著者 (9件):
NA Seokjin
(北大 大学院情報科学研究科)
池辺将之
(北大 大学院情報科学研究科)
横山紗由里
(大阪大 大学院工学研究科)
高前田伸也
(北大 大学院情報科学研究科)
本村真人
(北大 大学院情報科学研究科)
浅井哲也
(北大 大学院情報科学研究科)
間久直
(大阪大 大学院工学研究科)
藤田陽一
(高エネルギー加速器研究機構)
新井康夫
(高エネルギー加速器研究機構)

資料名:
電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻: 117  号: 166(SDM2017 31-49)  ページ: 35-38  発行年: 2017年07月24日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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