文献
J-GLOBAL ID:201702215442341342
整理番号:17A1002981
熱雑音抑制型サンプルホールド回路を用いたイオン飛行時間計測用SOIイメージセンサ
SOI image sensor for ion flight time measurement using thermal noise suppressing sample hold circuit
著者 (9件):
NA Seokjin
(北大 大学院情報科学研究科)
,
池辺将之
(北大 大学院情報科学研究科)
,
横山紗由里
(大阪大 大学院工学研究科)
,
高前田伸也
(北大 大学院情報科学研究科)
,
本村真人
(北大 大学院情報科学研究科)
,
浅井哲也
(北大 大学院情報科学研究科)
,
間久直
(大阪大 大学院工学研究科)
,
藤田陽一
(高エネルギー加速器研究機構)
,
新井康夫
(高エネルギー加速器研究機構)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
117
号:
166(SDM2017 31-49)
ページ:
35-38
発行年:
2017年07月24日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)