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文献
J-GLOBAL ID：201702216292827325
整理番号：17A1276503
アナログ回路部品の劣化を考慮した確率的行動モデリングを変化および【Powered by NICT】
Variation- and degradation-aware stochastic behavioral modeling of analog circuit components
Taddiken Maike
(Institute of Electrodynamics and Microelectronic (ITEM.me), University of Bremen, Germany)
,
Hillebrand Theodor
(Institute of Electrodynamics and Microelectronic (ITEM.me), University of Bremen, Germany)
,
Paul Steffen
(Institute of Electrodynamics and Microelectronic (ITEM.me), University of Bremen, Germany)
,
Peters-Drolshagen Dagmar
(Institute of Electrodynamics and Microelectronic (ITEM.me), University of Bremen, Germany)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： SMACD ページ： 1-4 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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