文献
J-GLOBAL ID:201702216534032028
整理番号:17A1273366
ストリークカメラを用いたIGBT破壊機構解析のための直接光放出モニタリング【Powered by NICT】
Direct photo emission monitoring for analysis of IGBT destruction mechanism using streak camera
著者 (7件):
Matsudai Tomoko
(Storage & Electronic Devices Solutions Company, Toshiba Corporation, 1-1-1, Shibaura, Minato-ku, Tokyo 105-8001, Japan)
,
Endo Koichi
(Storage & Electronic Devices Solutions Company, Toshiba Corporation, 1-1-1, Shibaura, Minato-ku, Tokyo 105-8001, Japan)
,
Ogura Tsuneo
(Storage & Electronic Devices Solutions Company, Toshiba Corporation, 1-1-1, Shibaura, Minato-ku, Tokyo 105-8001, Japan)
,
Matsumoto Toru
(System Division, Hamamatsu Photonics K.K., Shizuoka, Japan)
,
Uchiyama Koro
(System Division, Hamamatsu Photonics K.K., Shizuoka, Japan)
,
Niikura Fuminori
(System Division, Hamamatsu Photonics K.K., Shizuoka, Japan)
,
Koshikawa Kazushige
(System Division, Hamamatsu Photonics K.K., Shizuoka, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ISPSD
ページ:
135-138
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)