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文献
J-GLOBAL ID:201702216534032028   整理番号:17A1273366

ストリークカメラを用いたIGBT破壊機構解析のための直接光放出モニタリング【Powered by NICT】

Direct photo emission monitoring for analysis of IGBT destruction mechanism using streak camera
著者 (7件):
Matsudai Tomoko
(Storage & Electronic Devices Solutions Company, Toshiba Corporation, 1-1-1, Shibaura, Minato-ku, Tokyo 105-8001, Japan)
Endo Koichi
(Storage & Electronic Devices Solutions Company, Toshiba Corporation, 1-1-1, Shibaura, Minato-ku, Tokyo 105-8001, Japan)
Ogura Tsuneo
(Storage & Electronic Devices Solutions Company, Toshiba Corporation, 1-1-1, Shibaura, Minato-ku, Tokyo 105-8001, Japan)
Matsumoto Toru
(System Division, Hamamatsu Photonics K.K., Shizuoka, Japan)
Uchiyama Koro
(System Division, Hamamatsu Photonics K.K., Shizuoka, Japan)
Niikura Fuminori
(System Division, Hamamatsu Photonics K.K., Shizuoka, Japan)
Koshikawa Kazushige
(System Division, Hamamatsu Photonics K.K., Shizuoka, Japan)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: ISPSD  ページ: 135-138  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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