文献
J-GLOBAL ID:201702216635210984
整理番号:17A1778244
安全マージンを適用したへの機能的ブロードサイドテスト【Powered by NICT】
Close-to-Functional Broadside Tests With a Safety Margin
著者 (1件):
Pomeranz Irith
(School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻:
36
号:
12
ページ:
2139-2143
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0142C
ISSN:
0278-0070
CODEN:
ITCSDI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)