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文献
J-GLOBAL ID：201702216849681535
整理番号：17A1650125
電圧降下条件におけるTHzイメージング系の定量的解析【Powered by NICT】
Quantitative analysis of THz imaging systems in brownout conditions
Prophete C.
(Institut Langevin, ESPCI Paris, CNRS, PSL Research University, France)
,
Pierrat R.
(Institut Langevin, ESPCI Paris, CNRS, PSL Research University, France)
,
Sik H.
(Safran Electronics & Defense, France)
,
Kling E.
(Safran Electronics & Defense, France)
,
Carminati R.
(Institut Langevin, ESPCI Paris, CNRS, PSL Research University, France)
,
de Rosny J.
(Institut Langevin, ESPCI Paris, CNRS, PSL Research University, France)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： IRMMW-THz ページ： 1-2 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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