文献
J-GLOBAL ID:201702217031916668
整理番号:17A1618218
受動近接場顕微鏡法のチップサイズ依存性
Tip size dependence of passive near-field microscopy
著者 (3件):
LIN Kuan-Ting
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
KOMIYAMA Susumu
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
KAJIHARA Yusuke
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名:
Optics Letters
(Optics Letters)
巻:
41
号:
3
ページ:
484-487
発行年:
2016年02月01日
JST資料番号:
H0690A
ISSN:
0146-9592
CODEN:
OPLEDP
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)