文献
J-GLOBAL ID:201702217265112718
整理番号:17A0509830
GaAs/InAs コア/シェルのナノワイヤでのHall効果測定における電子干渉
Electron Interference in Hall Effect Measurements on GaAs/InAs Core/Shell Nanowires
著者 (14件):
HAAS Fabian
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
,
HAAS Fabian
(Juelich Aachen Res. Alliance, Fundamentals of Future Information Technol. (JARA-FIT), Juelich, DEU)
,
ZELLEKENS Patrick
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
,
ZELLEKENS Patrick
(Juelich Aachen Res. Alliance, Fundamentals of Future Information Technol. (JARA-FIT), Juelich, DEU)
,
LEPSA Mihail
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
,
LEPSA Mihail
(Juelich Aachen Res. Alliance, Fundamentals of Future Information Technol. (JARA-FIT), Juelich, DEU)
,
RIEGER Torsten
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
,
RIEGER Torsten
(Juelich Aachen Res. Alliance, Fundamentals of Future Information Technol. (JARA-FIT), Juelich, DEU)
,
GRUETZMACHER Detlev
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
,
GRUETZMACHER Detlev
(Juelich Aachen Res. Alliance, Fundamentals of Future Information Technol. (JARA-FIT), Juelich, DEU)
,
LUETH Hans
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
,
LUETH Hans
(Juelich Aachen Res. Alliance, Fundamentals of Future Information Technol. (JARA-FIT), Juelich, DEU)
,
SCHAEPERS Thomas
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
,
SCHAEPERS Thomas
(Juelich Aachen Res. Alliance, Fundamentals of Future Information Technol. (JARA-FIT), Juelich, DEU)
資料名:
Nano Letters
(Nano Letters)
巻:
17
号:
1
ページ:
128-135
発行年:
2017年01月
JST資料番号:
W1332A
ISSN:
1530-6984
CODEN:
NALEFD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)