文献
J-GLOBAL ID:201702217590582499
整理番号:17A0145828
製品小児障害のためのPCAとSVMに基づくビッグデータ指向根本原因同定法【Powered by NICT】
Big data oriented root cause identification approach based on PCA and SVM for product infant failure
著者 (3件):
He Zhenzhen
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
,
He Yihai
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
,
Wei Yi
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
PHM (Chengdu)
ページ:
1-5
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)