文献
J-GLOBAL ID:201702217847159899
整理番号:17A0223227
SAT符号化ベースの故障分類を用いたテストデータ圧縮手法
A Test Pattern Compaction Method Using SAT-Based Fault Grouping
著者 (1件):
MATSUNAGA Yusuke
(Department of Advanced Information Technology, Faculty of Information Science and Electronical Engineering, Kyushu University)
資料名:
IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Web)
(IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Web))
巻:
E99.A
号:
12
ページ:
2302-2309(J-STAGE)
発行年:
2016年
JST資料番号:
U0466A
ISSN:
1745-1337
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)