文献
J-GLOBAL ID:201702217907793302
整理番号:17A0885678
フォールトトレラントネットワークオンチップのための多層診断【Powered by NICT】
Multi-Layer Diagnosis for Fault-Tolerant Networks-on-Chip
著者 (6件):
Schley Gert
(Chair of Embedded Systems, University of Stuttgart, Stuttgart, Germany)
,
Dalirsani Atefe
(Chair of Computer Architecture, University of Stuttgart, Stuttgart, Germany)
,
Eggenberger Marcus
(Chair of Embedded Systems, University of Stuttgart, Stuttgart, Germany)
,
Hatami Nadereh
(Chair of Computer Architecture, University of Stuttgart, Stuttgart, Germany)
,
Wunderlich Hans-Joachim
(Chair of Computer Architecture, University of Stuttgart, Stuttgart, Germany)
,
Radetzki Martin
(Chair of Embedded Systems, University of Stuttgart, Stuttgart, Germany)
資料名:
IEEE Transactions on Computers
(IEEE Transactions on Computers)
巻:
66
号:
5
ページ:
848-861
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0233A
ISSN:
0018-9340
CODEN:
ICTOB4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)