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文献
J-GLOBAL ID：201702218921220483
整理番号：17A0966370
SSDのための実験とシミュレーションボードレベル落下試験の間の相関に関する研究【Powered by NICT】
A study on the correlation between experiment and simulation board level drop test for SSD
Tae Min Kang
(SK hynix Semiconductor Inc., NAND Solution Development Division, Solution Hardware, Seongnam-si, Gyeonggi-do, 463-844, Republic of Korea)
,
Yong Chang Lee
(SK hynix Semiconductor Inc., NAND Solution Development Division, Solution Hardware, Seongnam-si, Gyeonggi-do, 463-844, Republic of Korea)
,
Byung Kwon Bae
(SK hynix Semiconductor Inc., NAND Solution Development Division, Solution Hardware, Seongnam-si, Gyeonggi-do, 463-844, Republic of Korea)
,
Won Seob Song
(SK hynix Semiconductor Inc., NAND Solution Development Division, Solution Hardware, Seongnam-si, Gyeonggi-do, 463-844, Republic of Korea)
,
Jae Sung Lee
(SK hynix Semiconductor Inc., NAND Solution Development Division, Solution Hardware, Seongnam-si, Gyeonggi-do, 463-844, Republic of Korea)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： EuroSimE ページ： 1-6 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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