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文献
J-GLOBAL ID:201702219517388200   整理番号:17A0617976

薄膜源からの147Smのα崩壊の高精度半減期測定

High precision half-life measurement of 147Sm α decay from thin-film sources
著者 (5件):
WILSENACH H.
(Technische Univ. Dresden, Dresden, DEU)
ZUBER K.
(Technische Univ. Dresden, Dresden, DEU)
DEGERING D.
(VKTA-Radiation Protection, Dresden, DEU)
HELLER R.
(Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Dresden, DEU)
NEU V.
(IFW Dresden, Dresden, DEU)

資料名:
Physical Review. C  (Physical Review. C)

巻: 95  号:ページ: 034618.1-034618.9  発行年: 2017年03月 
JST資料番号: D0747A  ISSN: 2469-9985  CODEN: PRVCAN  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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