文献
J-GLOBAL ID:201702219517388200
整理番号:17A0617976
薄膜源からの147Smのα崩壊の高精度半減期測定
High precision half-life measurement of 147Sm α decay from thin-film sources
著者 (5件):
WILSENACH H.
(Technische Univ. Dresden, Dresden, DEU)
,
ZUBER K.
(Technische Univ. Dresden, Dresden, DEU)
,
DEGERING D.
(VKTA-Radiation Protection, Dresden, DEU)
,
HELLER R.
(Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Dresden, DEU)
,
NEU V.
(IFW Dresden, Dresden, DEU)
資料名:
Physical Review. C
(Physical Review. C)
巻:
95
号:
3
ページ:
034618.1-034618.9
発行年:
2017年03月
JST資料番号:
D0747A
ISSN:
2469-9985
CODEN:
PRVCAN
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)