文献
J-GLOBAL ID:201702219863447287
整理番号:17A1090479
散乱計測に基づく光学的測定の高度な応用
Advanced applications of scatterometry based optical metrology
著者 (9件):
DIXIT Dhairya
(GLOBALFOUNDRIES Technology Dev., New York, USA)
,
KELLER Nick
(Nanometrics, CA)
,
KAGALWALA Taher
(GLOBALFOUNDRIES Technology Dev., New York, USA)
,
RECCHIA Fiona
(GLOBALFOUNDRIES Technology Dev., New York, USA)
,
LIFSHITZ Yevgeny
(Nanometrics, CA)
,
ELIA Alexander
(GLOBALFOUNDRIES Technology Dev., New York, USA)
,
TODI Vinit
(GLOBALFOUNDRIES Technology Dev., New York, USA)
,
FRONHEISER Jody
(GLOBALFOUNDRIES Technology Dev., New York, USA)
,
VAID Alok
(GLOBALFOUNDRIES Technology Dev., New York, USA)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
10145
号:
Pt.2
ページ:
101451H.1-101451H.10
発行年:
2017年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)