文献
J-GLOBAL ID:201702220041844356
整理番号:17A0465642
Ni-Znフェライト厚膜の電気抵抗率に対するSn4+の影響
Influence of Sn4+ on Structural and DC Electrical Resistivity of Ni-Zn Ferrite Thick Films
著者 (7件):
DALAWAI S. P.
(Shivaji Univ., MS, IND)
,
SHINDE T. J.
(Smt. KRP Kanya Mahavidyalaya, MS, IND)
,
GADKARI A. B.
(GKG Coll., MS, IND)
,
TARWAL N. L.
(Lal Bahadur Shastri Coll., MS, IND)
,
TARWAL N. L.
(Gwangju Inst. of Sci. and Technol. (GIST), Gwangju, KOR)
,
JANG J. H.
(Gwangju Inst. of Sci. and Technol. (GIST), Gwangju, KOR)
,
VASAMBEKAR P. N.
(Shivaji Univ., MS, IND)
資料名:
Journal of Electronic Materials
(Journal of Electronic Materials)
巻:
46
号:
3
ページ:
1427-1438
発行年:
2017年03月
JST資料番号:
D0277B
ISSN:
0361-5235
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)