文献
J-GLOBAL ID:201702220164915010
整理番号:17A0375019
再版:非極性面上に成長させたウルツ鉱型GaN/AlN量子ドットの光学的性質:内部電場の還元における積層欠陥の影響【Powered by NICT】
Reprint of: Optical properties of wurtzite GaN/AlN quantum dots grown on non-polar planes: The effect of stacking faults in the reduction of the internal electric field
著者 (6件):
Budagosky J.A.
(Institut de Ciencia dels Materials (ICMUV), Universitat de Valencia, E-46071 Vαlencia, Spain)
,
Garro N.
(Institut de Ciencia dels Materials (ICMUV), Universitat de Valencia, E-46071 Vαlencia, Spain)
,
Cros A.
(Institut de Ciencia dels Materials (ICMUV), Universitat de Valencia, E-46071 Vαlencia, Spain)
,
Garcia-Cristobal A.
(Institut de Ciencia dels Materials (ICMUV), Universitat de Valencia, E-46071 Vαlencia, Spain)
,
Founta S.
(CEA, INAC-SP2M, “Nanophysique et semiconducteurs” Group, F-38000 Grenoble, France)
,
Daudin B.
(CEA, INAC-SP2M, “Nanophysique et semiconducteurs” Group, F-38000 Grenoble, France)
資料名:
Materials Science in Semiconductor Processing
(Materials Science in Semiconductor Processing)
巻:
55
ページ:
90-94
発行年:
2016年
JST資料番号:
W1055A
ISSN:
1369-8001
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)