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文献
J-GLOBAL ID：201702220214909897
整理番号：17A0911467
ZrO_2破壊経路のTiN媒介マルチレベル負の光伝導【Powered by NICT】
TiN-Mediated Multi-Level Negative Photoconductance of the ZrO2 Breakdown Path
Zhou Yu
(School of Electrical and Electronic Engineering, Nanyang Technological University, Singapore)
,
Kawashima Tomohito
(Corporate Manufacturing Engineering Center, Toshiba Corporation, Yokohama, Japan)
,
Ang Diing Shenp
(School of Electrical and Electronic Engineering, Nanyang Technological University, Singapore)
資料名：
IEEE Journal of the Electron Devices Society
(IEEE Journal of the Electron Devices Society)
巻： 5 号： 3 ページ： 188-192 発行年： 2017年
JST資料番号： W2429A ISSN： 2168-6734 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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