文献
J-GLOBAL ID:201702220256938198
整理番号:17A1544983
IGBT中の動的アバランシェの抽出はターンオフ【Powered by NICT】
Extraction of dynamic avalanche during IGBT turn off
著者 (5件):
Geissmann Silvan
(ABB Semiconductors, Switzerland)
,
Michielis L. De
(ABB Semiconductors, Switzerland)
,
Corvasce Ch.
(ABB Semiconductors, Switzerland)
,
Rahimo M.
(ABB Semiconductors, Switzerland)
,
Andenna M.
(ABB Semiconductors, Switzerland)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
76-77
ページ:
495-499
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)